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Q-POD Element終端精制器詳細介紹

測量技術和檢測技術的新近發(fā)展極大地提高了現(xiàn)代分析儀器的靈敏度。使用諸如ICP-MS技術，可以在ppt或亞ppt水平檢測痕量元素。
這些低檢測限水平技術有多種新應用，例如元素指紋識別，可用于法醫(yī)學、食品飲料工業(yè)和天體地質學等眾多不同的領域。
低檢測限水平意味著須多加注意實驗設備、操作人員、實驗室環(huán)境以及所用的樣品容器，因為這些因素都可能影響實驗結果。
分析過程中使用的超純水也是一樣。由于樣品制備需要溶解和稀釋過程，因此使用這些靈敏技術分析的樣品中90%以上是高純度的純水。高純度的純水還用于清洗裝樣品的容器，清洗塑料器具，制備空白和標準溶液。
進行痕量分析的實驗室必須有可靠的超純水來源，且該超純水必須始終保持低的元素濃度。
專門設計的Q-POD Element ，與Milli-Q Integral或Milli-Q Advantage超純水純化系統(tǒng)聯(lián)合使用，可以達到此目的。Q-POD Element終端精制器的設計是由精通IC、ICP-MS以及GF-AAS等痕量分析方法的科學家開發(fā)的。



Q-POD Element終端精制器技術參數(shù)：

電阻率 18.2MΩ-cm @ 25℃
元素水平 ppt或亞ppt級（參見元素列表）
顆粒 < 1/l（=""> 0.5 μm）
硅 < 1="" ppb="">
TOC < 5="">
細菌 < 0.01="" cfu="">